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描述：數(shù)字IC測試儀產(chǎn)品點(diǎn)： ◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。◆器件型號判別：當(dāng)不知被測器件型號時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯能來判斷 其型號。◆器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對其行連續(xù)老化測試。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2025-05-01訪問量
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|
數(shù)字IC測試儀 型號：HAD-ICT-33C
HAD-ICT-33C數(shù)字集成電路測試儀,數(shù)字IC測試儀產(chǎn)品點(diǎn)：
◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。
◆器件型號判別：當(dāng)不知被測器件型號時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯能來判斷 其型號。
◆器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對其行連續(xù)老化測試。
◆器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯能*，引腳排列*的器件型號。
◆電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。
◆內(nèi)RAM數(shù)據(jù)修改：HAD-ICT-33C可從鍵盤對自己內(nèi)RAM中的數(shù)據(jù)行隨機(jī)修改。
◆EPROM、EEPROM器件讀入：HAD-ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)行讀入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件寫入：HAD-ICT-33C可將內(nèi)RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM
器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。
◆ 新增RS232接口，與PC通訊，互送資料。
光學(xué)測角儀 型號;HADC7
、主要用途：
HADC7光學(xué)測角儀結(jié)構(gòu)簡單，使用廣泛，它是用的方法測定角度的良好儀器，它與標(biāo)準(zhǔn)件或角度塊規(guī)可測量金屬與光學(xué)零件的角度；測量導(dǎo)軌的直線性；測量零件件的平行度；測量兩個(gè)平面的垂直度。此外，還可以與多面體或角度塊組合使用行分度測量等作。
HADC7型光學(xué)測角儀是在C60的基礎(chǔ)上增加了測微器裝置。視場中直讀小格為1ˊ=60秒，而理論上測微器需轉(zhuǎn)8.33小格，合到測微器上的小格=7.2秒。即測微器每轉(zhuǎn)動(dòng)周（50小格）=視場中移動(dòng)6小格=360秒。本儀器之點(diǎn)為解決了測量范圍大與度之間的對矛盾。
HADC7光學(xué)測角儀
二、HADC7結(jié)構(gòu)原理：
本儀器有如下幾個(gè)分組成：
1、帶有標(biāo)尺分劃板的自準(zhǔn)平行光管；
2、具有平面性的作臺；
3、支架；
4、照明設(shè)備；
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